高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱，作為材料科學(xué)、電子工程、航空航天及汽車(chē)工業(yè)等領(lǐng)域中不可或缺的測(cè)試設(shè)備，其執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性至關(guān)重要。包括國(guó)內(nèi)外主要標(biāo)準(zhǔn)體系、試驗(yàn)箱的基本構(gòu)造與原理、試驗(yàn)方法、試驗(yàn)條件以及維護(hù)保養(yǎng)等。

高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱的執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)涵蓋了多個(gè)國(guó)家和行業(yè)的規(guī)范。在國(guó)內(nèi)，主要的執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)包括GB/T 2423系列標(biāo)準(zhǔn)，如GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫》、GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫》以及GB/T 2423.22-2002《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化》等。此外，國(guó)軍標(biāo)GJB系列，如GJB 150.3-1986《**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)》、GJB 150.4-1986《**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)》和GJB 150.5-1986《**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)》等，也是重要的執(zhí)行依據(jù)。